Návrhy - Přehled návrhů norem

Při odesílání formuláře se vyskytla chyba:

Výsledky

47/3028/CDV - IEC 63567-3 ED1 Semiconductor devices - Performance evaluation of semiconductor processing components and inspection equipment - Part 3: Nano-scale wafer surface inspection method using UV light

Oblast: Elektrotechnické inženýrství Komise : IEC/TC 47 (Semiconductor devices) Open: 08.09.2026 to 04.11.2026

47/3031/CDV - IEC 63551-1 ED1 Semiconductor devices - Chip-scale testing for autonomous vehicles - Part 1: Combined LD-PD for LiDAR

Oblast: Elektrotechnické inženýrství Komise : IEC/TC 47 (Semiconductor devices) Open: 16.09.2026 to 11.11.2026

47A/1226/CDV - IEC 62228-5 ED2 Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 5: Ethernet transceivers

Oblast: Elektrotechnické inženýrství Komise : IEC/SC 47A (Integrated circuits) Open: 29.09.2026 to 25.11.2026

47A/1227/CDV - IEC 62228-3 ED2 Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 3: CAN transceivers

Oblast: Elektrotechnické inženýrství Komise : IEC/SC 47A (Integrated circuits) Open: 29.09.2026 to 25.11.2026

47E/907/CDV - IEC 60747-5-17 ED1 Semiconductor devices - Part 5-17: Optoelectronic devices - Light emitting diode - Measuring methods of optoelectronic parameters of micro scale light emitting diode array

Oblast: Elektrotechnické inženýrství Komise : IEC/SC 47E Open: 20.10.2026 to 15.12.2026