Podrobnosti návrhu
| Název | Semiconductor devices - Chip-scale testing for autonomous vehicles - Part 5: Ultrasonic devices |
|---|---|
| Číslo | 47/3020/CDV - IEC 63551-5 ED1 |
| Zdroj | ISO\IEC\CEN\CENELEC |
| Komise | IEC/TC 47 (Semiconductor devices) |
| Zkontrolujte datum zahájení | |
| K připomínkám do | |
| Oblast zaměření |
Akce
Anotace
This part of IEC 63551 specifies the standard testing conditions and testing methods that can be used to evaluate and determine the performance of ultrasonic devices for detection modules used in autonomous vehicle. This document applies to the performance testing for ultrasonic devices used in autonomous vehicles.
Instrukce
Tento dokument můžete připomínkovat po jednotlivých částech - stačí u příslušné části dokumentu vyplnit formulář v souladu s pokyny a kliknout na ‚Odeslat připomínku‘.
Prosíme, nepoužívejte vulgární výrazy a nevyužívejte tento prostor pro umisťování reklamy.